In der Arbeitsgruppe Festkörper-Spektroskopie elektronisch korrelierter Materialien verwenden wir eine innovative Photoemissionsmethode, die Time-of-Flight Momentum Microscopy (ToF-MM), zur Strukturanalyse und zur Untersuchung der elektronischen Bandstruktur aktuell erforschter korrelierter Materialien. In unseren Laboren und an Synchrotron-Anlagen führen wir Messungen an Einkristallen sowie an dünnen Schichten durch. Unser Ziel ist es, ein tiefes Verständnis der Ursachen exotischer makroskopischer Eigenschaften dieser Materialien zu erlangen, indem wir Besonderheiten in ihrer elektronischen Struktur aufdecken.
